24/7/365 全天候监控和保护测试操作中的半导体器件
自动收集、分析和检测生产测试、装配和包装操作中对产品产量、质量或可靠性产生负面影响的统计变化，无论这些操作发生在何处
下载 测试操作数据表
全球部署 - 4,000 多名测试人员
测试操作（T-Ops）模块支持业内最广泛的现有和传统测试人员，目前正在管理全球 OSAT 和 IDM 中的 4000 多名测试人员。所有测试操作数据都是自动收集的，可通过 DEX 进行交互式或基于规则的分析。
更高的质量和可靠性
测试运营是将设备发送给客户并进入供应链之前的最后一道关卡。拥有一个能够根据数据进行扩展，并提供满足客户要求所需的强大而灵活的规则和分析的平台至关重要。T-Ops 支持多种部件平均测试 (PAT) 算法，如 GDBN、NNR、DPAT、SPAT 和聚类。
提高测试效率，降低测试成本
测试运营部门通过深入了解测试仪和测试程序的效率，帮助提高测试产量。对您的内部或外部测试操作进行 24/7/365 全天候监控，确保您实现最大的良品率，以履行合同义务
为各种规模的客户提供支持
与其他公司的产品不同，Test Operations（作为 Exensio Fabless 或 Exensio IDM 的一部分）可从小型创业公司扩展到财富 500 强企业。我们拥有一支经验丰富的全球集成团队，可以在很短的时间内将 Test Operations 快速部署和集成到您的测试环境（IDM 或 OSAT）中。
测试操作快速要点
- 为当前和传统测试人员提供广泛支持
- 双向测试仪控制
- 通过 DEX 自动收集和清理数据
- 大数据分析（Cassandra 和 R）
- 特定测试分析和图表
- 无墨晶片图编辑/汇总/导出
- 质量和可靠性的在线和离线规则
由 TIBCO 支持的 Exensio 可视化技术