2019 年 1 月 15 日 - 加利福尼亚州圣克拉拉 (PDF Solutions, Inc.)
为半导体行业提供数据和分析解决方案的领先供应商 PDF Solutions®（纳斯达克股票代码：PDFS）今天宣布其第二代 Design-for-Inspection™ 解决方案（包括 eProbe® 250）已投入商业应用。 该系统目前正准备发货。
经过三年的投资和开发，第二代系统在吞吐量和精度方面取得了数量级的进步，使 DFI™ 片上仪器能够用于尖端半导体工艺节点的在线控制。
"PDF Solutions 首席执行官 John Kibarian 说："我们很高兴第二代 DFI 系统实现了商业部署。Kibarian 博士继续说："我们认为这是对我们过去三年的愿景和研发努力的验证。这一里程碑证明了 PDF Solutions 集成 DFI 解决方案的价值和需求，我相信这也预示着 DFI 的未来。
关于 DFI 系统
DFI 解决方案旨在通过将具有校准电子响应的片上仪器直接置于产品晶圆中，实现对半导体制造过程中缺陷的早期检测，而不会对芯片面积造成任何影响。DFI 系统集成了专有的片上仪器和专门的电子束工具，实现了在线测量产品晶圆所需的独特快速扫描方法。电子测量增强并提高了现有的光学缺陷检测和计量技术。DFI 基于 PDF Solutions 20 多年的良率模拟软件和 Characterization Vehicle® 测试芯片开发经验。
PDF Solutions 可立即提供 DFI 评估、许可和部署服务。欲了解更多信息，请联系[email protected]。
前瞻性陈述
本新闻稿中有关公司产品和解决方案的成功、预期业务绩效和财务业绩的表述为前瞻性表述，受未来事件和情况的影响。实际结果可能与这些前瞻性声明中表述的结果存在实质性差异。可能导致结果出现重大差异的风险和不确定性包括与以下方面相关的风险：新客户和现有客户对公司解决方案的持续采用、项目里程碑或延迟、达到的性能标准、与客户系统的集成，以及PDF Solutions定期向美国证券交易委员会提交的公开文件中列出的其他风险，包括但不限于其最近提交的截至2017年12月31日的10-K表年度报告、10-Q表季度报告、8-K表当前报告以及对这些报告的修订。前瞻性声明是截至本报告发布之日作出的，PDF Solutions不承担更新此类声明的义务，也不承担实际结果可能与此类声明中预测的结果存在实质性差异的原因。
关于 PDF 解决方案
PDF Solutions 提供业界领先的数据和分析解决方案，通过从集成电路产品和制造工艺中生成差异化的专有电特性数据 (ECD)，并提供一个大数据平台来分析来自全球供应链的 ECD 和所有其他数据类型，从而提高半导体工艺效率和产品可靠性。PDF Solutions 的整个产品组合所生成、收集和分析的差异化数据使半导体生态系统中的所有公司受益匪浅。
Exensio®大数据平台通过四个关键组件，将晶圆制造、工艺控制和测试数据以及 ECD 中隐藏的相关可操作信息挖掘出来：产量、控制、测试、ALPS 和 Char。Exensio 平台可通过内部部署或软件即服务（SaaS）的方式提供。Design-for-Inspection™ 解决方案通过电子束测量整个制造过程中的高密度测试结构或 DFI™ 单元来生成差异化数据。CharacterizationVehicle®(CV®) 电气测试芯片基础架构提供核心建模功能，与业内其他测试芯片相比，有更多的领先制造商在使用它。
PDF Solutions 总部位于加利福尼亚州圣克拉拉市，业务遍及全球，并在加拿大、中国、法国、德国、意大利、日本、韩国和台湾设有办事处。PDF Solutions 在纳斯达克全国市场上市，股票代码为 PDFS。有关公司的最新新闻和信息，请访问 /。
Characterization Vehicle、CV、Exensio、PDF Solutions 和 PDF Solutions 徽标是 PDF Solutions 公司或其子公司的注册商标。ALPS、Design-for-Inspection 和 DFI 是 PDF Solutions 公司或其子公司的商标。
联系人
Indranil De
副总裁，检验设计部
电话：(408) 938-6429
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索尼娅-塞戈维亚
投资者关系协调员
电话：(408) 938-6491
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