独特而强大的表征能力

PDF Solutions 是参数表征系统领域公认的商业领导者，率先使用短流程测试芯片来开发和提升新技术和新产品，并在过去二十年间从集成良率提升项目中获得了数百项验证结果。 CV® 系统现在也可以订购。

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我们的表征车系统

CV 系统提供差异化的参数电气数据，与 Exensio 分析平台相结合，可提供可操作的见解，从而大大缩短设计迭代时间，并将产品上市时间加快长达三个月。

CV 系统是针对我们专有的 pdFasTest® 并行参数测试仪的高密度 CV 测试芯片布局的组合，生成数据的速度比传统测试芯片系统快 100 倍，并可自动摄入 Exensio® 分析平台。 整个堆栈经过优化，可生成标有所有关键设计属性的简洁数据，以便进行高效的汇总和深入分析。

CV 系统提供亚 PPB（每十亿分之一）统计分辨率、广泛的布局模式实验设计 (DoE)、区域效率和自动分析。该系统可在无与伦比的周转时间内实现业务目标：短流程制造可节省数周至数月的处理时间，而对整批全序列 CV 的 100% 测试和分析可在一天内完成。

鉴定车测试芯片

PDF Solutions 提供了 100 多款 10 纳米及以下的 CV 测试芯片。事实证明，CV 测试芯片代表了对验证和监控高产、稳定生产至关重要的工艺布局相互作用。每个 CV 测试芯片都得益于我们数十年的行业经验，以及为您的产品设计风格和/或工艺技术定制的专有布局和 DoE。

无晶圆厂 CV 系统

第一时间正确交付产品是企业成功的关键。稳定的大规模生产是优化 WIP 和实现利润的必要条件。无晶圆厂 CV 系统提供的参数洞察力有助于实现您的目标。MPW CV、Product Detective CV 和 Direct Probe CV 测试芯片提供了必要的洞察力，可在量产前发现功能和参数问题。Scribe CV 测试芯片和 CV Core IP 模块提供监控和快速诊断能力，以优化成本实现高质量量产。

铸造厂和 IDM 的 CV 系统

二十多年来，PDF Solutions 一直在帮助代工厂和 IDM 实现世界一流的学习率，用于技术开发和量产。我们的客户依靠短流程 BEOL CV 和 xFEOL CV 测试芯片（全视网膜或共享视网膜），以最短的处理、测试和分析时间最大限度地提高每个晶圆的学习率。Scribe CV 可在量产期间提供全晶圆空间覆盖，实现关键产品的定制，达到快速推出新产品和持续提高产量所需的可观察性。

最大限度地提高批量生产的稳健性和可预测性

我们的表征车提供广泛的设备表征数据，结合 Exensio Analytics Platform 中的产品测试数据分析，能够建立准确的特定产品性能模型，实现最佳的特定产品工艺设置，最大限度地提高制造稳健性和可预测性。