挖掘数据价值是下一件大事
芯片已进入融合时代。从无人驾驶到虚拟现实，从人工智能到云计算，从 5G 到物联网，众多力量推动着半导体测试技术的不断进步。随着芯片上承载的功能越来越多，技术越来越复杂，测试步骤的数量和类型必须成倍增加，这反过来又会导致测试成本的增加。半导体测试设备需要超长时间 "待机"，这对半导体制造工厂来说是一项重资产投资，其生命周期至少为 5 至 10 年。在芯片技术和工艺快速升级和迭代的智能世界中，此类设备必须能够随时满足日益复杂的测试需求。
测试始终需要走在芯片的前面。那么，在长期 "待机 "的情况下，需要哪些技术来不断更新测试设备呢？在提高产量和控制成本的斗争中，开发测试设备的先进功能已势在必行。这意味着测试和测量解决方案必须扩展到整个半导体产业价值链。测试技术在解决传统测试 "中心"（集成电路生产流程、晶圆测试和最终测试）问题的同时，必须向左（实现与集成电路设计的更大集成）和向右转变，在产品层面进行更多的系统级测试 (SLT)，并向上接入云、人工智能和大数据。
大量半导体测试数据的价值需要挖掘和利用，因为它不仅可以提高测试效率，确保产品良率，而且对于通过数据分析优化测试计划和控制成本也至关重要。这也是为半导体生态系统提供全面数据解决方案的 Advantest 和 PDF Solutions 的基本要求。
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